Soares L de M, Souza CP de. Modelagem de defeitos em circuitos integrados na perspectiva do leiaute. Rev. Principia [Internet]. 2016 Dec. 26 [cited 2026 Nov. 5];1(32):65-7. Available from: https://periodicos.ifpb.edu.br/index.php/principia/article/view/1060