Soares L de M, Souza CP de. Modelagem de defeitos em circuitos integrados na perspectiva do leiaute. Rev. Principia [Internet]. 26º de dezembro de 2016 [citado 24º de janeiro de 2025];1(32):65-7. Disponível em: https://periodicos.ifpb.edu.br/index.php/principia/article/view/1060