SOARES, L. de M.; SOUZA, C. P. de. Modelagem de defeitos em circuitos integrados na perspectiva do leiaute. Revista Principia, [S. l.], v. 1, n. 32, p. 65–75, 2016. DOI: 10.18265/1517-03062015v1n32p65-75. Disponível em: https://periodicos.ifpb.edu.br/index.php/principia/article/view/1060. Acesso em: 24 jan. 2025.