Zambom, L. da S., Abe, I.Y., Ordonez, N., Rangel, R.C. e Mansano, R.D. 2025. Cristalização de filmes finos de silício amorfo depositados por RF magnetron sputtering após difusão de dopantes. Revista Principia. 62, (jan. 2025). DOI:https://doi.org/10.18265/2447-9187a2022id8062.