Caracterização numérica do efeito do diodo PIN em superfícies seletivas em frequência reconfiguráveis utilizando o Método Iterativo das Ondas
DOI:
https://doi.org/10.18265/1517-03062015v1n45p131-139Palavras-chave:
FSS, RFSS, WCIP, Diodo PINResumo
A caracterização numérica é uma importante etapa de projeto, pois minimiza a construção de protótipos e otimiza resultados, sendo a escolha da técnica a ser utilizada um aspecto de fundamental importância. Nesse contexto, uma análise da caracterização numérica de superfícies seletivas em frequência reconfiguráveis – RFSS (Reconfigurable frequency selective surface) –, tendo como elemento ativo o diodo PIN, a partir da aplicação do Método Iterativo das Ondas – WCIP (Wave Concept Iterative Procedure) –, é apresentada neste trabalho. O diodo PIN é numericamente substituído por uma resistência, o que corresponde a uma região de cargas, sendo possível observar como a resposta em frequência da RFSS é alterada pela variação dessa resistência equivalente, incluindo a sua região de transição. As dimensões da região de cargas equivalente ao diodo PIN e a variação do valor da resistência são avaliadas, o que corresponde a diferentes níveis de excitação DC do diodo PIN. Os resultados obtidos são comparados aos casos ideais do curto circuito e do circuito aberto, observando-se uma boa concordância para o valor da frequência de ressonância. Além disso, verifica-se que a técnica proposta descreve o comportamento da RFSS inclusive na região de transição do diodo PIN, o que é um resultado bastante interessante, indicando a aplicabilidade da metodologia apresentada.
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